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Oled 模組批量老化設(shè)備
Oled 模組批量老化設(shè)備
1.大規(guī)模模組老化測試系統(tǒng)是通過Keithley3706A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集硅光電二極管的 光電流/光電壓從而得到AMOLED模組相對亮度的變化過程，可在單個模組或屏體 上增加多個硅光電二極管來實現(xiàn)多個位置的亮度老化監(jiān)控；支持圖片自定義切換， 支持RGBW等多種Pattern的老化性能測試分析；
2.該方案非常適合于大規(guī)模的模組老化測試，最大可支持250個模組同時老化測試； 同時可集成箱體溫控功能，實現(xiàn)高溫加速老化測試。
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