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Oled IVL 測(cè)試設(shè)備
Oled IVL 測(cè)試設(shè)備
1. OLED IVL測(cè)試設(shè)備（TEG）主要用于測(cè)試OLED TEG產(chǎn)品的IVL特性曲線、EQE及光譜參 數(shù)等（IVL機(jī)臺(tái)可集成積分球式EQE測(cè)試系統(tǒng)）；
2. 可增加溫度控制功能，實(shí)現(xiàn)不同溫度下的IVL測(cè)試；視角測(cè)量時(shí)CCD自動(dòng)進(jìn)行位置補(bǔ)償，保 證測(cè)試的準(zhǔn)確性；
3. 有效屏蔽外界信號(hào)干擾，保證低壓下也能有光滑的IV曲線；
4. 方便的軟件操作界面，可預(yù)點(diǎn)亮，可一鍵設(shè)定后自動(dòng)完成所有工作的IVL測(cè)試；
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Oled 模組批量老化設(shè)備
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