1. OLED IVL測(cè)試設(shè)備(TEG)主要用于測(cè)試OLED TEG產(chǎn)品的IVL特性曲線、EQE及光譜參 數(shù)等(IVL機(jī)臺(tái)可集成積分球式EQE測(cè)試系統(tǒng));
2. 可增加溫度控制功能,實(shí)現(xiàn)不同溫度下的IVL測(cè)試;視角測(cè)量時(shí)CCD自動(dòng)進(jìn)行位置補(bǔ)償,保 證測(cè)試的準(zhǔn)確性;
3. 有效屏蔽外界信號(hào)干擾,保證低壓下也能有光滑的IV曲線;
4. 方便的軟件操作界面,可預(yù)點(diǎn)亮,可一鍵設(shè)定后自動(dòng)完成所有工作的IVL測(cè)試;